前提：此测试方式仅用于IC且内部必须要有保护二极管者方可使用 。
原理分析：
1：当IC1内部有保护二极管时 ，以电表测试UED登录入口会发现IC1每一支脚对GND都会有0.7V压 ，所以用二极管测试方法即可 ，但是如果有与其它IC并联时便无法测出IC脚是否OPEN ，如图二当IC1
A点OPEN或IC2
A点OPEN皆会量测出0.7V故无法测试出来 。
2：使用IC
SCAN便可解决上述之问题 。其原理如下：(图三)
当要测试IC1
A点是否OPEN时 ，先在A点送一电压量出一电流I ，而I为IC1与IC2二者电流相加 。在IC1找另外一支脚B送一电压 。让I1之电流变小 。则I亦会变小 ，这表示IC1之A点正常 ，反之如果I电流不变则表示
IC1之A点有OPEN之现象 。
